ZEM20

Настольный сканирующий электронный микроскоп (SEM) ZEM20 относится к серии ZEM, разработанной на базе передовой технологии ZEPTOOLS. Устройство сочетает в себе высокое разрешение, интуитивно понятное программное обеспечение и компактный форм-фактор, что делает его полноценным аналитическим решением для лабораторий с ограниченным пространством.

ZEM20 представляет собой серийный настольный SEM международного уровня, отличающийся превосходным качеством изображений, гибкостью конфигурации и минимальными требованиями к обучению оператора. Встроенное ПО охватывает весь цикл работы — от загрузки образца и настройки параметров до получения, обработки и анализа изображений, обеспечивая сквозной, унифицированный и эффективный рабочий процесс.

Модель активно применяется в университетах, научно-исследовательских институтах и промышленных лабораториях благодаря оптимальному соотношению функциональности, надёжности и стоимости. Её ключевые области применения включают исследования новых материалов, возобновляемой энергетики, биомедицинских технологий и полупроводниковых структур — всё это позволяет учёным напрямую изучать особенности микро- и наноструктур.

Ключевые технические особенности ZEM20:

• Технология вакуумной сепарации: реализована конструкция с раздельными вакуумными отсеками для электронной пушки и камеры образцов, что обеспечивает замену образца менее чем за 1 минуту.
• Увеличенный объём камеры для образцов: позволяет размещать крупногабаритные или нестандартные объекты, повышая удобство и универсальность эксплуатации.
• Сверхвысокое разрешение: достигает 5 нм при ускоряющем напряжении 20 кВ, максимальное увеличение — до 360 000×.
• Режим низкого вакуума: предназначен для прямого наблюдения непроводящих образцов без предварительного нанесения проводящего покрытия.
• 5-осевой моторизованный штатив: обеспечивает независимое управление по осям X, Y, Z, а также наклоном и вращением образца непосредственно внутри вакуумной камеры.
• Опциональная цифровая камера: интегрируется в систему для визуального контроля текущих координат и ориентации штатива, повышая точность позиционирования.